穿透式電子顯微鏡
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| 英文名稱 | Transmission Electron Microscope, TEM |
| 功能說明 | 具有掃描及穿透功能、可觀察材料微細組織、晶體結構及缺陷、並可做化學元素成份定性及半定量檢測 |
| 廠牌型號 | JEOL JEM-2010(UHR) |
| 儀器規格 |
(1) 加速電壓： 200 & 102KeV (2) 解析度： Point Resolution = 0.19nm, Lattice Resolution = 0.143nm (3) 最大放大倍率： X 1500000 (X 1.5M) |
| 建構年分 | 2012 |
| 收費標準 | 詳如下所示 |
| 備註 |
(1) 數位CCD 取照片 (2) 元素分析 EDS (費用另計) (3) 可代做TEM試片(費用另計) |
| 關鍵字 | TEM、 Microstructure、Grain、Magnetic |
| 放置位置 | 化材系磁性材料與薄膜實驗室 |
| 管理者 |
化學工程與材料科學學系/磁性材料與薄膜實驗室 孫安正教授 電話：03-4638800 分機：2561再轉2002 E-mail: |
元智大學 化學工程與材料科學學系 TEM 使用收費標準
| 儀器中(英)文名稱 | 學術單位 | 財團法人與廠商 | 管理人員 |
| JEM-2010穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM) |
l 日間：3150元/3小時。 l 夜間：6300元/3小時。 (以上費用不包含EDS功能) 額外收費部分(選配)： lEDS點狀成分分析：1050元/5點 l光學底片：105元/張 |
l日間：6300元/3小時。 l夜間：12600元/3小時。 (以上費用不包含EDS功能) 額外收費部分(選配)： lEDS點狀成分分析：2100元/5點 l光學底片：210元/張 |
孫安正,Ph.D 03-4638800 先轉2561~3再轉2002 or |
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備註： l本儀器電壓可以降至120keV做低熔點材料，收費標準同上。 l本儀器亦有搭配之TEM試片製作服務，唯因試片種類與製作方式不同，此部分費用另計。 |
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