原子力顯微鏡/磁力顯微鏡
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| 英文名稱 |
Atomic Force Microscope, AFM Magnetic Force Microscope, MFM |
| 功能說明 | 利用探針針尖量測樣本表面特性 |
| 廠牌型號 | Bruker INNOVA SPM |
| 儀器規格 | 試片最大尺寸 45mm x 45mm x 18mm |
| 建構年分 | 2012 |
| 收費標準 | 詳如下所示 |
| 備註 | |
| 關鍵字 | 原子力顯微鏡、AFM、掃描探針顯微鏡、表面粗糙度 |
| 放置位置 | 化材系磁性材料與薄膜實驗室 |
| 管理者 |
化學工程與科學材料學系磁性材料與薄膜實驗室 孫安正教授 電話：03-4638800 分機：2561再轉2002 E-mail: |
元智大學化學工程與材料科學學系 TEM 使用收費標準
| 儀器中(英)文名稱 | 學術單位 | 財團法人與廠商 | 管理人員 |
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原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope, AFM) |
l探針費用：525元/次 l試片收費：525元/片 ※額外多測一點加收630元(包含2D+3D圖) |
l探針費用：1050元/次 l試片收費：1050元/片 ※額外多測一點加收630元(包含2D+3D圖) |
孫安正教授 電話：03-4638800 E-mail: |
| 磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscope, MFM) |
l探針費用：1050元/次 l試片收費：1050元/片 ※額外多測一點加收630元(包含2D+3D圖) |
l探針費用：2100元/次 l試片收費：2100元/片 ※額外多測一點加收630元(包含2D+3D圖) |
孫安正教授 電話：03-4638800 E-mail: |
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備註： l特殊試片或特殊分析模式費用另計。 l以上皆含基本分析。 |
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